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Schnittstellen-Tests für serielle Bussysteme Boundary Scan kombiniert mit Automotive-Anwendungen für CAN-FD und LIN

Von Stefanie Eckardt 1 min Lesedauer

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GÖPEL electronic GmbH

Göpel electronic hat eine Erweiterung für das Scanflex Multi Port Bus I/O Modul 9305 vorgestellt. Damit lassen sich die Funktionen des Systems für Automotive-Schnittstellen beim Fertigungstest nutzen.

Göpel electronic hat eine Erweiterung für das Scanflex Multi Port Bus I/O Modul 9305 vorgestellt. (Bild: Göpel electronic)
Göpel electronic hat eine Erweiterung für das Scanflex Multi Port Bus I/O Modul 9305 vorgestellt.
(Bild: Göpel electronic)

Serielle Kommunikation ist nach wie vor das Rückgrat der elektronischen Kommunikation im Automobilbereich. Hier haben sich der kostengünstige LIN-Bus mit Master-Slave-Architektur sowie der schnelle Multi-Host-Feldbus CAN-FD durchgesetzt. In der Kombination beider Bussysteme liegt der große Vorteil und die Effizienz der Anwendungen. Für diese Schnittstellen hat Göpel electronic nun eine Erweiterung für das Scanflex Multi Port Bus I/O Modul 9305 vorgestellt, mit denen die Funktionsvielfalt des Scanflex Systems nun auch für Automotive-Schnittstellen beim Fertigungstest nutzbar wird.

CAN-FD- und LIN-Schnittstellen bei Fertigung prüfen

Mit dem neuen BAC-Modul für CAN-FD/LIN können diese Schnittstellen bereits bei der Fertigung auf Funktionalität geprüft werden. Das Bus Access Cable (BAC) wird dazu an einen der fünf Slots des Moduls 9305 angeschlossen und so mit dem System verbunden. Damit wird der Zugriff auf die komplexen Testfunktionen das Boundary Scan-Controllers Scanflex ermöglicht. Dieser übernimmt dann die simultane Generierung und dynamische Verteilung der Vektoren und Steuersequenzen auf die Interfaces.

Multifunktionale Architektur

Scanflex ist ein modularer JTAG/Boundary-Scan-Controller. Auf Basis von Multi-Core-Prozessoren und FPGAs kann der Anwender Test- und Programmiertechnologien der Embedded JTAG Solutions ausführen. Durch die multifunktionale Architektur lassen sich die Technologien flexibel und mit hoher Performance auf einer Plattform kombinieren. Scanflex II verfügt über acht unabhängige, echt parallele Test Access Ports (TAP) für bis zu 100MHz. Dadurch gelingt die synchronisierte Ausführung von embedded Test-, Debug- und Programmier-Operationen via Boundary Scan (IEEE1149.x), Prozessor Emulation, Chip Integrated Instruments oder dem Embedded Diagnostics Verfahren.  (se)

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