Messen und Testen SDVs: Modulare Testarchitektur für Automotive-Display- und Kameraschnittstellen

Von Stefanie Eckardt 1 min Lesedauer

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Emerson hat eine neue modulare Testarchitektur entwickelt, die der zunehmenden Komplexität Software-definierter Fahrzeuge gerecht wird. Die auf NI-Technologie basierende Lösung für Automotive-Vision-Anwendungen kombiniert einen FPGA-Kern mit austauschbaren Serializer-/Deserializer-Schnittstellenmodulen.

Das NI PXIe-1480 FlexRIO Multiprotokoll-Vision-Carrier-Modul dient als Träger für austauschbare Schnittstellenmodule zur Validierung von Automotive-Displays und Kameras.(Bild:  TRILITE | Emerson)
Das NI PXIe-1480 FlexRIO Multiprotokoll-Vision-Carrier-Modul dient als Träger für austauschbare Schnittstellenmodule zur Validierung von Automotive-Displays und Kameras.
(Bild: TRILITE | Emerson)

Mit der Einführung der neuen Testarchitektur will Emerson die NI PXI-Plattform als offene, modulare Grundlage für zukünftige Testanforderungen weiterentwickeln voran. Die Lösung umfasst das NI PXIe-1480 FlexRIO Multiprotokoll-Vision-Carrier-Modul, das austauschbare Schnittstellenmodule für Tests von Automotive-Displays und Kameras unterstützt. Die ersten verfügbaren Schnittstellenmodule unterstützen FPD-Link IV.

Automatisierte und deterministische Prüfverfahren optimieren Testabdeckung

Weil Fahrzeugarchitekturen zunehmend auf zentralisierte elektronische Steuergeräte (ECUs) setzen, müssen Ingenieure mehrere Hochgeschwindigkeitsschnittstellen in immer komplexeren Systemen validieren. Herkömmliche Testmethoden für Displays, die häufig auf Kameras oder visuellen Inspektionen basieren, begrenzen die Skalierbarkeit und führen zu Schwankungen in den Testergebnissen. Durch die direkte Anbindung an die SerDes-Ein- und Ausgänge (I/O) von ECU und Display verbessert der modulare PXI-basierte Ansatz die Testabdeckung durch automatisierte und deterministische Prüfverfahren. Das Ergebnis ist eine flexible, einheitliche Plattform, die Validierungsprozesse vereinfacht und die Wiederholbarkeit von Tests verbessert.

Das NI PXIe-1480 Trägermodul bildet die Grundlage dieser Architektur und unterstützt austauschbare Schnittstellenmodule, die auf spezifische Testanforderungen zugeschnitten sind. Zum Marktstart konzentrieren sich die verfügbaren Schnittstellenmodule auf Display-Testanwendungen. Emerson plant, die Plattform noch im Jahr 2026 um weitere Schnittstellenmodule zu ergänzen, die zusätzliche Kamera- und Display-Protokolle  (se)

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